Cigarečių dėžutė su rankomis pagaminta įprastas bandymas teigiamos PS plokštės gamybos procese

Cigarečių dėžutė su rankomis pagaminta įprastas bandymas teigiamos PS plokštės gamybos procese

 

Pastaraisiais metais Kinijos PS technologija sparčiai vystėsi, o produkcija toliau didėjo. Rinkos klestėjimas atneš aršią konkurenciją rinkoje, PS versijų gamintojai nori užimti stabilią rinkos dalį, privalome užtikrinti jų gaminių kokybę ir reputaciją, todėl PS versijos gamybos procese labai svarbi gera gaminio kokybė. Todėl PS versijos kokybės kontrolė turėtų būti pasiekiama atliekant šiuos įprastinius testus.

 

Žaliavų bandymai

Teigiama PS plokštė susideda iš dviejų dalių: šviesai jautraus sluoksnio ir aliuminio plokštės pagrindo. Žaliavos, kurias dažniausiai naudoja PS plokščių gamintojai, gali būti patobulintos į keturis aspektus aplink šias dvi dalis:

 

1) Įvairios žaliavos, reikalingos šviesai jautriam tirpalui paruošti;

2) Siekiant patenkinti spausdinimo reikalavimus, įvairios žaliavos, reikalingos aliuminio plokštės pagrindo apdorojimui;

3) Aliuminio plokštės pagrindas, reikalingas teigiamam PS plokštės atraminiam korpusui;

4) PS plokščių gamybos vandens vandens kokybė.

Siekiant stabilizuoti gaminių kokybę, prieš perkant žaliavas būtina žaliavos tiekėjui pateikti reikalingų medžiagų techninius eksploatacinius rodiklius pagal gamybos reikalavimus; Turi būti išanalizuoti ir išbandyti pagrindiniai perkamų žaliavų techniniai rodikliai.

 

1. Įvairių žaliavų, reikalingų šviesai jautriam tirpalui, analizė ir nustatymas

Šviesai jautrų tirpalą daugiausia sudaro šviesai jautri derva, plėvelę formuojanti derva, dažai, tirpiklis ir kiti priedai.

1) 2.1.5- Sulfonilchlorido savybių nustatymas
2.1.5- sulfonilchloridas yra oranžinės geltonos spalvos kristalas, naudojamas šviesai jautrių dervų sintezei.
① Nustatykite lydymosi temperatūrą. Kietosios medžiagos lydymosi temperatūra yra temperatūra, kuriai esant atmosferos slėgiui medžiagos kietoji ir skystoji būsena pasiekia pusiausvyrą. Esant vienam atmosferos slėgiui, pokytis tarp kietos ir skystos būsenos yra labai jautrus, o temperatūros pokytis nuo pradinio lydymosi iki visiško lydymosi neviršija 1 laipsnio. Jei jame yra priemaišų, lydymosi temperatūra mažėja, o lydymosi temperatūros diapazonas plečiasi. Todėl apie junginio grynumą galima spręsti išmatuojant lydymosi temperatūrą.

② Nustatytas 2,1.5- sulfonilchlorido kiekis. 2.1.{5}} Sulfonilchlorido kiekis turi didelę įtaką šviesai jautrioms dervos savybėms. Šiuo metu įvairių gamintojų gaminamo 2,1.5-sulfonilchlorido grynumas yra aukštas, jo kiekis siekia daugiau nei 98%, tačiau norint susintetinti stabilią šviesai jautrią dervą, 2,1.{12}} reikia išmatuoti sulfonilchlorido kiekį. Paprasčiausias ir tiksliausias metodas 2.1.{15}}sulfonilchlorido kiekiui aptikti yra naudoti ultravioletinį spektrofotometrą, kuris gali būti naudojamas Kinijoje.

③ Ultravioletinių spindulių sugerties spektrų nustatymas. Ultravioletinių spindulių spektrofotometru buvo nustatytas maksimalus sulfonilchlorido absorbcijos bangos ilgis 2,1.{2}}.

 

2) Plėvelę sudarančios dervos nustatymas
Plėvelę formuojanti derva daugiausia naudoja linijinę fenolio dervą, kuri yra didelės molekulinės masės junginys.
① Buvo nustatyta molekulinė masė ir molekulinės masės pasiskirstymas. Polimeriniai junginiai susideda iš daugybės skirtingo dydžio molekulių, skirtingų molekulių proporcijos skiriasi, o molekulinės masės pasiskirstymo plotis turi didelę įtaką jautrumui ir skyrai. Fenolio dervos vidutinę molekulinę masę (Mn), vidutinę molekulinę masę (Mw) ir molekulinės masės pasiskirstymą galima lengvai ir tiksliai nustatyti gelinio pralaidumo chromatografija (GPC).

② Išmatuokite klampumą. Plėvelę sudarančios dervos klampumą galima nustatyti sukamuoju viskozimetru.
Be pirmiau minėtų dviejų bandymų, reikia nustatyti dervos lydymosi temperatūrą.

 

3) Tirpiklio drėgmės kiekio nustatymas
Be kelių vietinių PS plokščių gamintojų šviesai jautriam tirpalui ruošti naudoja etilenglikolio monoetilo eterį, butilketoną, esterius ir kitus mišrius tirpiklius, dauguma gamintojų kaip tirpiklį naudoja tik etilenglikolio monoetilo eterį. Tačiau nesvarbu, ar tai daugiakomponentis, ar vienkomponentis tirpiklis, tirpiklio vandens kiekį turi nustatyti Karl Fischer automatinis titratorius.

 

2. Plokštės pagrindo apdirbimo proceso analizė
Yang Tu PS plokštės pagrindo apdorojimo procesas yra:
Aliuminio ritės išvyniojimas → plovimas šarmu → elektrolizė → oksidacija → hidrofilinis apdorojimas

 

1) Skalbimas šarmais
Pašalinkite alyvos ir natūralaus oksido plėvelę nuo aliuminio plokštės paviršiaus.

2) Elektrolizė
Aliuminio plokštės paviršiuje suformuotas smėlio tinklelis, siekiant padidinti paviršiaus plotą ir pagerinti ne vaizdo srities hidrofiliškumą bei sukibimą tarp aliuminio plokštės ir šviesai jautraus sluoksnio.

3) Oksidacija
Po elektrolizės ant aliuminio plokštės susidaro kietas AI2O3 plėvelės sluoksnis, siekiant pagerinti spausdinimo plokštės atsparumą dilimui, atsparumą korozijai ir stabilumą.

4) Hidrofilinis apdorojimas

Sumažinkite AI2O3 plėvelės adsorbciją į šviesai jautrų sluoksnį, pagerinkite ne vaizdo srities hidrofiliškumą ir sumažinkite AI2O3 ir Al tirpumą ryškale.

Neorganinės rūgšties ir neorganinės bazės kiekis žaliavose, naudojamose PS plokščių pagrindo apdorojimo procese, nustatytas tūrine analize. Matuojant natrio hidroksido kiekį, kadangi pramoniniame natrio hidrokside yra nedidelis natrio karbonato kiekis, prieš analizę natrio karbonatas turi būti paverstas bario karbonato nusodinimu.

 

3. Kokybinė ir kiekybinė aliuminio pagrindo mikroelementų analizė ir aptikimas
Aliuminio plokštėje paprastai yra nedidelis kiekis mikroelementų, kokybinį ir kiekybinį mikroelementų aptikimą galima nustatyti atominės absorbcijos spektrometru, atominės absorbcijos analizės metodas turi didelį jautrumą, gerą pakartojamumą, lengvai valdomas, greitas charakteristikas, tačiau prietaiso kaina yra didesnis, gamintojai gali reguliariai aptikti fizinių ir cheminių bandymų centrą.

 

4. PS versijos gamybos vandens analizė ir aptikimas
PS plokštės gamybos procese reikia daug vandens, geriausia naudoti dejonizuotą vandenį, nes vandenyje esantys katijonai ir anijonai turės tam tikrą poveikį PS plokštelei, pvz., halogeno jonai gali korozuoti oksido plėvelę ir gaminti mažus. skyles.

Dejonizuotas vanduo gali būti paimamas jonų mainų metodu, vandens kokybės nustatymas gali būti nustatomas laidumo matuokliu, kiekvienas gamintojas gali nustatyti atitinkamą laidumo vertę pagal savo gaminamo vandens kokybės reikalavimus ir reguliariai matuoti.

 

Gaminių kokybės kontrolė ir tikrinimas

Norint įvertinti gaminio kokybę, be kai kurių paties gaminio savybių, jis turi turėti gerą pakartojamumą ir stabilumą. Gamintojai turėtų turėti griežtą įmonės standartinių duomenų rinkinį, kad galėtų kontroliuoti produktų kokybę.

 

1. Išbandykite tirpalo, naudojamo plokštelės pagrindui apdoroti, koncentraciją

Plokščių pagrindo apdorojimo procese naudojamo tirpalo koncentracija dažniausiai aptinkama naudojant internetinį aptikimą, o įvairių tirpalų, naudojamų plokštelės pagrindo apdorojimo procese, koncentracija yra reguliariai kiekybiškai tikrinama gamybos procese, kad būtų pasiektas nurodytas indeksas. Tuo pačiu metu turi būti aptiktas Al3+ kiekis riebalų šalinimo tirpale, elektrolite ir oksidacijos tirpale. Koncentracijos testą galima atlikti atliekant paprastą ir greitą rūgščių-šarmų titravimo analizę, o įmonės, turinčios geras sąlygas, gali įdiegti internetinius detektorius. Šiuo metu Kinijoje gaminamo PS versijos internetinio testavimo prietaiso tikslumas nėra per didelis ir jis naudojamas tik kaip nuoroda. Tikrasis internetinis automatinis testavimo prietaisas naudoja elektrocheminės analizės metodą, kuris naudoja kiekybinį ryšį tarp cheminės sudėties ir įtampos, srovės, laidumo ir kt., Kad nustatytų kiekvienos medžiagos kiekį cheminės energijos ir elektros energijos konversijos procese.

 

2. Patikrinkite vidinę gaminio kokybę

1) Versijos bazės veikimo testas
① Paviršiaus šiurkštumas. Paviršiaus šiurkštumas matuojamas paviršiaus šiurkštumo matuokliu, paprastai vertinamas pagal Ra, Rz, Sm ir kitus techninius parametrus, tarp kurių:
Ra -- atrankos ilgio kontūro nuokrypio absoliučios vertės aritmetinis vidurkis;
Rz – 5 didžiausių kontūro smailių aukščių vidurkio ir 5 didžiausių kontūro slėnio gylių vidurkio per mėginių ėmimo ilgį suma;

Sm -- Vidutinis atstumas tarp profilio mikronelygumo per atrankos ilgį.

Kontūro smailės tankis D gali būti apskaičiuojamas per Sm:
D=L/Sm, kur L yra atrankos ilgis.

② Oksido plėvelė. Oksido plėvelės įvertinimas daugiausia priklauso nuo oksido plėvelės vientisumo ir tankio, oksido plėvelės kristalinės struktūros ir storio.
a. Vientisumo ir kompaktiškumo bandymas
Oksido plėvelės vientisumas ir kompaktiškumas matuojamas vario sulfato tirpalu. Rūgščiomis sąlygomis vario jonai reaguos su aliuminiu, o ne su AI2O3. Kai aptikimo zonoje yra laisvas aliuminio pagrindas arba oksido plėvelė, vario sulfato tirpale esantis vario jonas įvyks išstūmimo reakcijoje su defekto vietoje esančiu aliuminiu ir išsiskirs dujos, todėl gali atsirasti juodų dėmių. pastebėtas oksido plėvelės defektas.

B. I2O3 kristalų formos būsenos nustatymas
Stebint AI2O3 kristalinę struktūrą elektroniniu mikroskopu, galima aptikti kristalo formos būseną, mažesnis gardelės defektas, kokybiška oksido plėvelė.

c. Oksido plėvelės storio nustatymas
PS plokštės oksido plėvelės storis turi didelę įtaką spausdinimo našumui, o PS plokštės oksido plėvelės storis išreiškiamas Al2O3, esančio ploto vieneto (g/m2), kokybe, kurią lemia metodas, nurodytas "teigiamo vaizdo tipo PS plokštės chemijos pramonės standarte, HG/T2694-95".

 

2) Šviesai jautraus sluoksnio fizikinių ir cheminių savybių nustatymas
① Šviesai jautraus sluoksnio storio matavimas. Šviesai jautraus sluoksnio storis turi įtakos lipofiliškumui, jautrumui šviesai, skiriamajai gebai, spausdinamumui ir vaizdo raidos efektui, o jo storis turi būti griežtai kontroliuojamas tam tikrame diapazone. Šviesai jautraus sluoksnio storis išreiškiamas šviesai jautraus sluoksnio mase ploto vienetui (g/m2) ir turi būti nustatytas pagal metodą, nurodytą Chemijos pramonės ministerijos teigiamo vaizdo tipo PS plokščių pramonės standarte, HG. /T2694-95".

② šviesai jautraus sluoksnio atsparumas šarminiam susilaikymui. Šviesai jautraus sluoksnio šarmams atsparios sulaikymo plėvelės savybės daro didelę įtaką plokštės skiriamajai gebai ir atsparumui spausdinimui. Atsparumas šarmams daugiausia reiškia šviesai jautraus sluoksnio ištirpimo laipsnį ryškaluose, kuris išreiškiamas šarmams atsparios plėvelės sulaikymo greičiu. Šarmams atsparus sulaikymo koeficientas yra šviesai jautraus sluoksnio masės ploto vienete (W1) ir likusio šviesai jautraus sluoksnio, panardinus į šarminį tirpalą, masės santykis (W2/W1). Nustačius šarmams atsparias sulaikymo plėvelės savybes, atitinkančias skirtingus PS plokštės ekspozicijos kiekius, galima geriau parodyti teigiamos PS plokštės šviesai jautrių charakteristikų skirtumus.

 

3) Šviesos jautrumo nustatymas
Šviesai jautraus PS plokštės sluoksnio aptikimas apima PS plokštės greičio, skiriamosios gebos, kontrasto koeficiento ir fono spalvos matavimą.

① Greitis. Jautrumas reiškia šviesai jautrios medžiagos jautrumą šviesai, tai yra, PS versijos jautrumas išreiškiamas ekspozicijos dydžiu. Kuo mažesnis ekspozicijos kiekis (šviesos energija, kurią sugeria šviesai jautri medžiaga), reikalinga tam tikram tankiui pasiekti, tuo jautrumas didesnis; Kuo daugiau ekspozicijos reikia, tuo mažesnis jautrumas.

② Rezoliucija. Rezoliucija reiškia šviesai jautraus sluoksnio gebėjimą atskirti smulkius rankraščio sluoksnius po tam tikro poveikio.

③ PS versijos kontrasto koeficientas. Kontrasto koeficientas yra svarbus PS plokštės parametras, kontrasto koeficientas yra didelis, ekspozicijos perėjimo sritis yra maža, vaizdo krašto tankio praradimas yra mažas, vaizdas yra aiškus, taškų mažinimas ir skiriamoji geba yra gera; Didelė ekspozicijos tolerancija, didelis atsparumas spausdinimui. Jautrumo aptikimas paprastai matuojamas nuolatinės moduliacijos skale ir signalo juostos kontakto su PS plokšte ekspozicija ir po išvystymo.

④ Išdėstymo fono spalva. Išdėstymo fono spalva (D{{0}}) naudojant atspindžio tankio matuoklį, įprastomis aplinkybėmis, D0 Mažesnė arba lygi 0,03.

 

3. Patikrinkite oro kreipiklio sluoksnį ant šiurkštaus paviršiaus
Dabar Kinijoje pagaminta PS versija padidino grubaus paviršiaus oro kreipiklio sluoksnį, taip pagerindama taškų mažinimą ir sumažindama siurbimo laiką. Siekiant užtikrinti dangos stabilumą, būtina patikrinti dangos medžiagos, esančios vieneto plote, kokybę ir siurbimo laiką. Siurbdami naudokite taškinę plėvelę ir PS plokštę, kad kontaktuotų su siurbimu, ir stebėkite laiką, reikalingą siurbimui.

 

Gatavo produkto akivaizdus aptikimas

Paskutinis PS plokščių gamybos procesas yra akivaizdus aptikimas, daugiausia norint pamatyti PS plokštės paviršiaus dangos vienodumą, ar išdėstymas lygus, ar nėra raukšlių, smėlio skylių, baltų dėmių, nešvarių dėmių. Klasifikuokite ir supakuokite pagal klasės reikalavimus, o tada palikite gamyklą.